紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的誕生及使用時(shí)注意事項(xiàng)

更新時(shí)間：2019-09-26

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紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)屬于光學(xué)儀器的一種，可廣泛應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生、化學(xué)化工、環(huán)保、地質(zhì)、機(jī)械、冶金、石油、食品、生物、材料、計(jì)量科學(xué)、農(nóng)業(yè)、林業(yè)、漁業(yè)等領(lǐng)域中的科研、教學(xué)等各個(gè)方面，用來(lái)進(jìn)行定性分析、純度檢查、結(jié)構(gòu)分析、絡(luò)合物組成及穩(wěn)定常數(shù)的測(cè)定、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究等。以下將為您詳細(xì)介紹紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的一些常見(jiàn)問(wèn)題。

一、紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的誕生

世界*紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)誕生于1918年的美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局。后來(lái)紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)經(jīng)不斷改進(jìn)，又出現(xiàn)自動(dòng)記錄、自動(dòng)打印、數(shù)字顯示、微機(jī)控制等各種類(lèi)型的儀器，使光度法的靈敏度和準(zhǔn)確度也不斷提高，其應(yīng)用范圍也在不斷擴(kuò)大。紫外可見(jiàn)分光光度法從問(wèn)世以來(lái)，在應(yīng)用方面有了很大的發(fā)展，尤其是在相關(guān)學(xué)科發(fā)展的基礎(chǔ)上，促使分光光度計(jì)儀器的不斷創(chuàng)新，功能更加齊全，紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)使得光度法的應(yīng)用更拓寬了范圍。

二、紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)使用注意事項(xiàng)

1.紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)在開(kāi)機(jī)前將樣品室內(nèi)的干燥劑取出，儀器自檢過(guò)程中禁止打開(kāi)樣品室蓋。

2.筆試PH計(jì)測(cè)定時(shí)，禁止將試劑或液體物質(zhì)放在儀器的表面上，如有溶液溢出或其它原因?qū)悠凡叟K，要盡可能及時(shí)清理干凈。

3.比色皿內(nèi)溶液以皿高的2/3～4/5為宜，不可過(guò)滿以防液體溢出腐蝕儀器。測(cè)定時(shí)應(yīng)保持比色皿清潔，池壁上液滴應(yīng)用擦鏡紙擦干，切勿用手捏透光面。測(cè)定紫外波長(zhǎng)時(shí)，需選用石英比色皿。

4.實(shí)驗(yàn)結(jié)束后將比色皿中的溶液倒盡，然后用蒸餾水或有機(jī)溶劑沖洗比色皿至干凈，倒立晾干。關(guān)電源將干燥劑放入樣品室內(nèi)，蓋上防塵罩，做好使用登記，得到管理老師認(rèn)可方可離開(kāi)。

三、紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)出現(xiàn)故障處理方法

1.紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)噪音較大

原因：

光源燈泡使用時(shí)間超過(guò)壽命期

處理方法：

更換光源燈泡

2.在使用過(guò)程中，出現(xiàn)數(shù)字顯示不能歸零，同時(shí)伴有圖線記錄基線位置偏高

原因：

①光電倍增等老化，性能降低

②信號(hào)處理板可能發(fā)生故障

③前置放大版出現(xiàn)故障，引起反饋量增大

處理方法：

①開(kāi)機(jī)通電，先做記錄故障曲線，再與原始記錄的標(biāo)準(zhǔn)曲線對(duì)照，找出異同點(diǎn)，并作一下定性定能分析。然后用一只同型號(hào)規(guī)格的新光電倍增管替換機(jī)上的光電管，再開(kāi)機(jī)實(shí)驗(yàn)，結(jié)果記錄出來(lái)的圖線并沒(méi)有什么變化，由此證明光電倍增管沒(méi)有老化變質(zhì)。

②進(jìn)一步檢查信號(hào)處理板，未發(fā)現(xiàn)信號(hào)處理板各元器件損壞，對(duì)影響靈敏度有關(guān)的電位器檢測(cè)，結(jié)果測(cè)得數(shù)據(jù)正常，這說(shuō)明信號(hào)處理板*。

3.紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)自檢時(shí)提示波長(zhǎng)自檢出錯(cuò)

原因：

自檢過(guò)程中可能打開(kāi)過(guò)儀器樣品室的蓋子

處理方法：

關(guān)上儀器樣品室蓋子，重新自檢

4.儀器自檢時(shí)提示通訊錯(cuò)誤

原因：

儀器與電腦之間的數(shù)據(jù)線沒(méi)有連接好

處理方法：

連接好數(shù)據(jù)線，重新打開(kāi)儀器和軟件，重新自檢

5.測(cè)試過(guò)程中提示能量太低